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上海仪电物光显微熔点仪SGW ®X-4
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上海仪电物光显微熔点仪SGW ®X-4

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物光(上海)

物光(上海)

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  • 仪器型号: SGW® X-4
  • 测量范围: 室温~320 ℃
  • 测量方法: 目视
  • 测量模式: 毛细管法、热台法
  • 最小示值: 1℃
  • 重复性: ≤200℃±1℃,>200±2℃
  • 观察方式: 单目显微镜
  • 放大镜倍数: 40×
  • 电源: 220V±22V,50Hz±1Hz
  • 仪器尺寸: 215×140×395mm
  • 仪器净重: 3.5kg
  • 测量范围: 室温~320 ℃
  • 测量方法: 目视
  • 最小示值: 目视
  • 升温速率: 0
  • 示值误差: 0
  • 示值重复性: 0
  • 线性升温速率误差: 0
  • 毛细管尺寸: 0
  • 样品高度: 0
  • 载玻片厚度: 0
  • 盖玻片厚度: 0
  • 视场直径: 0
  • 校准方式: 0
  • 观察方式: 单目显微镜
  • 放大镜倍数: 40×
  • 电源: 220V±22V,50Hz±1Hz
  • 仪器尺寸: 215×140×395mm
  • 仪器净重: 3.5kg

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SGW® X-4 显微熔点仪系列

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、燃料、香料等晶体有机化合物之测定。仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

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